常规产品
德思特ADC/DAC测试系统
产品简介：德思特ADC/DAC测试系统是一套9槽ATE芯片测试平台，模块化设计确保灵活性与扩展性，专注于数模及模数转换芯片的深度测试。系统囊括ADC/DAC全范围线性动态评估，搭载DIO时钟同步模块，可测8-24 bit ADC/DAC，以高达400 MHz的采样速率，重塑高效芯片测试新标准。
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德思特ADC/DAC测试系统
产品简介：德思特ADC/DAC测试系统是一套9槽ATE芯片测试平台，模块化设计确保灵活性与扩展性，专注于数模及模数转换芯片的深度测试。系统囊括ADC/DAC全范围线性动态评估，搭载DIO时钟同步模块，可测8-24 bit ADC/DAC，以高达400 MHz的采样速率，重塑高效芯片测试新标准。