产品简介：Universal HAST系列高加速压力测试系统
——为电子元件可靠性验证提供尖端解决方案
核心优势：
• 超高速测试：支持HAST、高压蒸煮、85/85测试，速度比传统湿热测试快10-40倍，专为塑封集成电路及微电子器件设计。
• 灵活容量：测试容积64-380升（可定制），适配多样化需求。
• 精准控制：专利双容器设计，温湿度均匀性达±0.5°C、±3% RH，4 ATM系统支持最高150°C（85%湿度）。
• 智能操作：触摸屏控制器内置数据记录仪，支持多步编程与远程数据传输（USB/LAN）。
• 全面安全：紧急泄压阀、过热传感器、接地故障保护等多重机制，确保测试安全。
型号亮点：
• HAST-1000X/6000X/9000X：负载10-60kg，空载升温/降温时间90分钟，支持200-2500W偏置热负载，适用于半导体、汽车电子等领域。
• 国际合规：符合JEDEC、IEC、JEITA等标准，覆盖无偏/偏置HAST测试。