2025新品
集成电路动态老化测试系统
产品简介：倍科仪器自主研发测试系统，专为模拟、数字及数模混合芯片设计，通过高温动态老化筛选与寿命测试，精准剔除早期故障芯片，提升产品可靠性，助您实现“零缺陷”交付。
1、全系主流标准
（1）车规级认证：AEC-Q100 全项支持
（2）军工级标准：GJB548/GJB597/MIL-STD-883/MIL-M-38510
2、全套测试项目
（1）加速寿命：HTOL、PTC
（2）环境耐受：HAST、TCT
（3）特殊场景：BLR、UHAST
在线会刊
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集成电路动态老化测试系统
产品简介：倍科仪器自主研发测试系统，专为模拟、数字及数模混合芯片设计，通过高温动态老化筛选与寿命测试，精准剔除早期故障芯片，提升产品可靠性，助您实现“零缺陷”交付。
1、全系主流标准
（1）车规级认证：AEC-Q100 全项支持
（2）军工级标准：GJB548/GJB597/MIL-STD-883/MIL-M-38510
2、全套测试项目
（1）加速寿命：HTOL、PTC
（2）环境耐受：HAST、TCT
（3）特殊场景：BLR、UHAST