产品简介：适用场景
半导体/芯片/电子元器件等产品三温（高温/常温/低温）测试，及微小型零部件测试

产品特点
•占地面积小：可直接放在办公桌上的微型高低温试验箱；
•没有场地限制：写字楼,办公室,研发试验室均可;
•没有用电困扰：220V电源,更加通用且易于维护‌；
•能耗低：节能40%,1小时1度电；
•性能稳定：持续运行1000+小时

容积/尺寸/重量
•标称内容积：20L(约A4纸大小）
•内箱有效尺寸(mm)：W310×H230×D290 
•外形空间(mm)：约W480×H680×D680
•供电电源：1φ220V AC±10%,50±0.5Hz
•重量：约120kg

设备性能
•温度范围：-70℃～+150℃
•温度分辨率：0.01℃
•温度偏差：±2℃    
•温度均匀度：≤2℃
•温度波动度：±0.5℃
•升温速率：≥3.5℃/min(全程平均空载)
•降温速率：≥1℃/min(全程平均空载)

满足试验方法
•GJB150.3A-2009  高温试验方法
•GJB150.4A-2009  低温试验方法
•GB/T 2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 试验Ab：低温
•GB/T 2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 试验Bb：高温