常规产品
赤霄-瞬态热阻测试仪
产品简介：该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据，获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息，支持测试半导体器件的结壳热阻，结环热阻等。
符合JESD 51-1、JESD 51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求，可输出结构函数，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、 GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的瞬态热测试、热结构分析。
