常规产品
赤霄-激光芯片老化测试设备
产品简介：该设备作为全球首台光电热一体检测设备，专为激光半导体老化测试设计，符合JESD 51-1、JESD 51-14、JESD 51-5X标准，可对激光芯片进行热阻测试、老化测试、 光功率监控，输出结构函数。
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赤霄-激光芯片老化测试设备
产品简介：该设备作为全球首台光电热一体检测设备，专为激光半导体老化测试设计，符合JESD 51-1、JESD 51-14、JESD 51-5X标准，可对激光芯片进行热阻测试、老化测试、 光功率监控，输出结构函数。