产品简介：本设备为高速微观AI AOI，配置了高清高速显微成像系统，具备多组光源，适应多种产品外观缺陷检测。
使用了动态聚焦与飞拍技术，能以极高速度进行采样与分析，从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测。
结合深度学习的检测算法，能适应各种复杂缺陷检测。
配合后台的数据统计系统，能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析，为制程优化提供依据。
本设备占用空间小，可直接摆放到桌面上，极为节省空间，提高洁净车间的利用率。

技术特性：
1、显微光学成像系统：高清显微成像系统，可标配高达0.5um-5um的成像分辨率（0.25um-2.5um选配）
2、高速飞拍：稳定且高精度的运动平台，结合高速的光学成像模组，不停顿的飞行采图模式，可大大节约成像时间。
3、高速动态聚焦：系统部署了高速动态聚焦的技术，即使产品安装或摆放不平整，仍能保证高速运动中的清晰成像，让产品的成像质量保持稳定。
4、可变倍变焦：满足微细瑕疵检测需求，并兼容不同尺寸产品的检测，图像分辨率：0.5μm-5μm，产品尺寸：1.5mm*2mm-15*25mm。
5、传统+AI算法：既可实现量化的缺陷检测和尺寸测量，还能做到复杂背景下的缺陷检测，有效保障检测能力的同时，也可极大地降低误报率。