方案推荐 |HY-BPC-P 双极性脉冲恒流源测试解决方案

半导体电流脉冲测试‌是一种评估功率半导体器件动态特性的测试方法，通过施加两个短暂的脉冲信号模拟器件在实际应用中的开关过程，第一个脉冲用于将器件从关闭状态切换到开启状态，以获得一定电流；第二个脉冲则是用来模拟器件在实际应用中可能遇到的再次开启。通过测量器件在两次脉冲之间的响应，包括开关时间、开关能量、电流波形等，获得稳态和动态过程中的主要参数‌。这些数据有助于更好地评估器件性能，优化驱动设计，确保电力电子系统的可靠性和稳定性。
随着功率半导体技术的发展，IGBT、 MOSFET、BJT 等半导体器件向小型化、集成化、大功率方向发展。为了避免大功率测试过程中温升对测试造成影响、甚至烧坏器件。在法规和行业测试中，通常会给被测器件施加满足功率条件下的瞬时电流脉冲，进行半导体器件相关参数测试。
高频大电流脉冲特性测试难点：
1、需实现脉冲宽度、占空比、脉冲幅度的精确控制；
2、需对器件的脉冲响应进行快速精确测量，要求电源AD转换和FPGA控制逻辑技术；
3、需使用低噪声、高精度的大电流源测试电源，满足大电流测试需求；
4、大电流下器件自加热效应显著，需采用脉冲测试法减少温升影响，确保测试数据准确；‌‌‌
参数通常范围：
1、‌电流范围‌：脉冲电流调节通常在0.01A到200A之间，具体配置根据实际需求选择合适的档位和最大电流值；
2、‌脉冲宽度‌：脉冲宽度一般为300μs。