

浙江杭可仪器有限公司
Zhejiang Hangke Instrument Co.,Ltd
国家和地区: 中国
展位号: N3.320
公司简介:浙江杭可仪器有限公司(ATIS HangKe) ,总部位于中国杭州,是一家有着悠久历史传承和丰富技术沉淀的高端装备制造企业。公司专注半导体可靠性测试及特种电源领域,是专业的测试方案提供者、高效的测试系统服务者、领先的电子电源设备研制者。
自创设以来,公司始终紧贴客户需求,坚持独立研发,经过数十年的创新积累,现已拥
有涵盖全系列电子元器件的老化筛选设备及测试系统,并承接多项国家重点工程配套任务,凭借优异的品质屡获某部嘉奖。公司现有员工近300人,专业技术人员占比超过50%,专利储备68项,研发能力多次荣获省部级科技进步奖项。成熟的销售体系及卓越的售后团队能够快速响应客户需求,产品及服务触达全国,深受众多客户的长期肯定。
杭可仪器秉承“高质、高效、高速“的稳健发展策略,深耕半导体行业,坚持以质量立身、以技术驱动、以客户为中心,积极探索更新的技术、更优的产品和更好的服务。锐意进取的我们,本着开放、合作、共好的商业理念,愿与行业内外的有识之士一道,为“追求科技进步、振兴民族产业”而奋斗不息。
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产品分类
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晶圆级可靠性测试系统
该系统适用于6/8寸晶圆级器件的可控高温的带电可靠性测试,基于JEDEC可靠性测试标准设计;提供高精度高电压输出,保存并且长期记录高精度电流,可控温度等参数,并根据记录测试数据,导出实验表格及MAP图多格式选择。
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高温高湿动态反偏老化测试系统
该系统针对SiC MOSFET进行高温高湿动态反偏老化测试,测试方法参考AQG324。每个试验区域可进行最高6个工位的测试,工位具备独立脉冲源配置。可为器件提供标准85°C/85%RH试验环境。具有试验器件短路脱离试验功能,可自动将故障器件脱离老化试验回路,不影响其他器件的正常试验。
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高温动态栅偏老化测试系统
该系统针对第三代SiC MOSFET具有动态栅偏老化测试能力,每块试验区可独立老化测试12工位,独立12路可配置脉冲,测试栅极漏电流相互之间不干扰。可为器件提供室温+10°C~200°C的试验温度。具有试验器件短路脱离试验功能,可自动将故障器件脱离老化试验回路,不影响其他器件的正常试验。
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