常规产品
CS-PDSNPC 间歇工作寿命老炼检测系统（IOL)
产品简介：适用于各种封装(TO-254、TO-257、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)及类型单管(MOSFET、IGBT、Si基/Sic Diode等)的功率半导体电子元器件功率循环/间歇工作寿命试验和稳态功率老炼试验
符合标准:MIL-STD-750、GJB128、JESD22-A122、AEC-O101...
试验模式:电性考核、例行品质、器件鉴定.
试验对象:二极管、三极管、MOS管、IGBT管.
试验场合:军工电子、汽车电子、消费电子、半导体器件设计和封测企业...
