2025新品
超大规模集成电路老化测试系统LSIC9000
产品简介：该系统可对芯片进行室温+10°C~150°C的HTOL测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。
每块老化板提供10路可编程电源(0.5~6.0V/25A)，电源规格
可单独定制
每块老化板可提供，256路I/O双向通道
每个试验箱可支持最大38KW的热耗散
支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接导入使用
支持芯片BIST测试
最大支持24个工位独立温控
充分的实验员人体安全考虑设定
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产品分类
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应用领域
