产品简介：开尔文测试座（Kelvin Test Socket），又称四线测试座，是一种基于开尔文四线检测（Kelvin Four-terminal sensing）原理，用于精密电子测量的测试载体。
- 双探针设计：每个引脚对应两根独立探针（一根Force，一根Sense）。

- 主体材料：PEEK、PEI、Ceramic等耐高温、高精密工程塑料。
适配封装：BGA、QFN、DFN、LGA、SOP等。
间距范围：通常 0.4mm ~ 1.27mm。
高精度：接触电阻 < 100mΩ。
大电流：单Pin可达 1A~4A。
宽温域：工作温度 -55℃ ~ +175℃。
长寿命：探针寿命 >1万次，高端可达30万次。
半导体芯片：精密电阻、导通、参数测试。
无源器件：低阻值电阻、电感、PCB线路阻抗测量 。
质量控制：IC封装、连接器、焊点的接触电阻检测。
消除接触误差：传统2线法无法比拟的精度 。
稳定可靠：高低温、大电流下测量一致。
通用性强：适配绝大多数芯片封装