失效分析-electronica Shanghai

常规产品

失效分析

产品简介：主要指通过实验分析手段确定元器件既有的失效现象的原因及失效机理，或判断可能存在的失效情况。公司提供的失效分析实验，除了为探究样品失效原因的检测分析外，还包括为发现潜在失效问题、确保工艺稳定实施的破坏性物理分析（DPA）。

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