常规产品
超大规模集成电路老化测试系统
产品简介：该系统支持双温区，可进行室温+10℃℃~150℃的HTOL老化测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。
* 每块老化板提供8路可编程电源 (0.5~6.0V/25A), 电源规格可单独定制。
* 每块老化板可提供，184路数字信号，其中32路为双向I/O。
* 每个试验箱可支持最大4KW的热耗散。
* 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接导入使用。
* 支持芯片BIST测试。
* 完全兼容DL601H机台的老化板，可即插即用。
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