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关于 electronica Shanghai
CN
2026新品
IC芯片时间相关介质击穿老炼测试系统（TDDB）
产品简介：针对各种封装类型的IC芯片进行时间相关介质击穿可靠性试验。
产品分类
应用领域
所属展商
杭州三海电子科技股份有限公司
Hangzhou Sanhai Electronic Technology Co.，Ltd
国家和地区：中国
展位号：N3.571
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